بمناسبة العيد القومى لمدينة الأقصر وذكرى اكتشاف مقبرة توت عنخ آمون (4 نوفمبر 1922) تعلن وزارة الآثار بالتعاون مع كلية الهندسة جامعة القاهرة ومعهد الحفاظ على التراث والابتكار بباريس-فرنسا(www.HIP.institute)عن بدء إجراء التصوير باستخدام الأشعة تحت الحمراء Infrared Thermography لجدران مقبرة توت عنخ آمون يومى 5 و 6 نوفمبروذلك فى الأماكن المحتمل أن يوجد بها فتحات بناءً على فرضيات الأثرى البروفيسير "نيكولاس ريفز".
وجدير بالذكر هذا الإجراء يتم بناء على طلب وزارة الآثار بعد موافقة اللجنة الدائمة للآثار المصرية والحصول على التصاريح اللازمة لذلك من الجهات المعنية بالدولة.
موضوعات متعلقة..
- الآثار: فعاليات متنوعة بمتحفى الأقصر والتحنيط احتفالا بالعيد القومى للأقصر غدا
